Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита C60

Автор(и)

  • А. Т. Пугачев Харьковский государственный политехнический университет, Украина, 310002, г. Харьков, ул. Фрунзе, 21
  • Н. П. Чуракова Харьковский государственный политехнический университет, Украина, 310002, г. Харьков, ул. Фрунзе, 21
  • Н. И. Горбенко Харьковский государственный политехнический университет, Украина, 310002, г. Харьков, ул. Фрунзе, 21

DOI:

https://doi.org/10.1063/1.593442

Ключові слова:

Анотація

Методом дифракции быстрых электронов на просвет определено изменение периода решетки (DELTA a)/a монокристаллических пленок фуллерита C60 толщиной менее 10 нм. В интервале температур от комнатной до азотной величина (DELTA a)/a увеличивается с уменьшением толщины пленок. По этим данным определены коэффициенты линейного расширения пленок alphaf и поверхностного атомного слоя alphas. Величина alphas вдоль плоскости (111) равна ( 55 +- 15 )10-6K -1.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Опубліковано

2006-02-05

Як цитувати

(1)
Пугачев, А. Т.; Чуракова, Н. П.; Горбенко, Н. И. Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита C60. ФНТ 2006, 23, 854-856.

Номер

Розділ

Низькоpозмірні та невпорядковані системи

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають