Структура и параметр решетки тонких пленок C60

Автор(и)

  • А. Т. Пугачев Харьковский государственный политехнический университет, Украина, 310002, г. Харьков, ул. Фрунзе, 21
  • Н. П. Чуракова Харьковский государственный политехнический университет, Украина, 310002, г. Харьков, ул. Фрунзе, 21
  • Н. И. Горбенко Харьковский государственный политехнический университет, Украина, 310002, г. Харьков, ул. Фрунзе, 21
  • Х. Саадли Харьковский государственный политехнический университет, Украина, 310002, г. Харьков, ул. Фрунзе, 21
  • А. А. Солодовник Физико-технический институт низких температур им. Б. И. Веркина НАН Украины, Украина, 310064, г. Харьков, пр. Ленина, 47

DOI:

https://doi.org/10.1063/1.593729

Ключові слова:

Анотація

В интервале температур 300-5К электроннооптическими методами исследована структура и параметр решетки пленок фуллерита C60, сконденсированных в вакууме на поверхность (100) NaCl при температурах подложки 290-400К. Пpи комнатной темпеpатуpе пленки фуллерита имели ГЦК решетку. При изменении температуры конденсации структура пленок изменялась от эпитаксиальной с ориентацией (111) до неориентированной предельно нанодисперсной с размером зерна 4-5нм. Определены кристаллографические условия сопряжения поверхности (100) NaCl и эпитаксиальных пленок фуллерита C60, установлен четырехпозиционный характер их структуры. Температура перехода ГЦК-ПК и наблюдаемая при этом величина скачка параметра решетки пленок близки к аналогичным данным массивного фуллерита. Из температурной зависимости параметра решетки в интервале 100-260К определен средний коэффициент линейного расширения пленок a . Увеличение a при малых толщинах является размерным эффектом, который обусловлен существенным влиянием поверхности. По данным проведенных исследований предложен механизм формирования структуры конденсированных пленок фуллерита C60.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Опубліковано

1999-03-10

Як цитувати

(1)
Пугачев, А. Т.; Чуракова, Н. П.; Горбенко, Н. И.; Саадли, Х.; Солодовник, А. А. Структура и параметр решетки тонких пленок C60 . Fiz. Nizk. Temp. 1999, 25, 298-304.

Номер

Розділ

Динаміка кристалічної гратки

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають

1 2 > >>