Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
DOI:
https://doi.org/10.1063/1.5024545Ключові слова:
микроволновый поверхностный импеданс, сверхпроводящий халькогенид, тонкая пленка, микроволновый резонатор.Анотація
Дается обоснование предложенной версии о природе ранее обнаруженной особенности в температурной зависимости микроволновых потерь в полом резонаторе с тонкой сверхпроводящей пленкой халькогенида FeSe1–xTex, расположенной перпендикулярно магнитному полю резонатора. Эксперимент с пленкой при ее параллельной ориентации по отношению к полю показывает отсутствие особенности. Появление особенности в области Т ≤ Tc при параллельной ориентации пленки объясняется изменением ориентации и распределения поля в пленке при изменении температуры. Сравнение экспериментальных данных с результатами анализа теоретической модели, не учитывающей изменение поля в пленке, показывает, что модельное представление можно использовать при микроволновых импедансных исследованиях пленок с перпендику-лярной ориентацией в интервале температур от низких до ∼ 2Tc / 3. Получены также соотношения для эффективного поверхностного импеданса сверхпроводящих пленок в N-состоянии, которые необходимы при по-строении зависимости эффективного импеданса от температуры в интервале, включающем Tc.Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
Downloads
Опубліковано
2018-01-22
Як цитувати
(1)
Баранник, А.; Черпак, Н.; He, Y.; Sun, L.; Zhang, X.; Вовнюк, М.; Wu, Y. Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки. Fiz. Nizk. Temp. 2018, 44, 326-331.
Номер
Розділ
Статті