Hemispherical X band microwave small sized open resonator for wide range from 1 to 20 permittivity characterization of solid-state dielectrics

Автор(и)

  • A. A. Breslavets O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • Li Rong Anhui Huadong Photoelectric Technology Institute, Ltd, Wuhu, China
  • Zhu Gang Anhui Huadong Photoelectric Technology Institute, Ltd, Wuhu, China
  • O. A. Voitovich O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • , O. I. Shubny O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • V. V. Glamazdin O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • M. P. Natarov O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • G. O. Rudnev O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • Z. E. Eremenko O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics of NAS of Ukraine, Kharkiv 61085, Ukraine
  • A. A. Prokopenko V. N. Karazin Kharkiv National University, Kharkiv 61022, Ukraine

DOI:

https://doi.org/10.1063/10.0008963

Ключові слова:

open hemispherical resonator, X band, working resonant mode, Q factor, permittivity, dielectric sample.

Анотація

Проведено комп’ютерне моделювання та експериментальне дослідження відкритого напівсферичного резонатора Фабрі–Перо X діапазону з наступними характеристиками: одне дзеркало резонатора має напівсферичну форму, а інше є плоским дзеркалом та має значно менший діаметр, ніж перше дзеркало. Робоча резонансна мода є TEM005, тобто між напівсферичним та плоским дзеркалами резонатора розташовано лише 5 півхвиль. Резонатор має досить розріджений частотний спектр, наприклад, 3 резонанси в діапазоні 7–12 ГГц. При зміні діелектричної проникності діелектричних зразків від 1 до 20 одиниць відповідний діапазон резонансних частот досить великий та дорівнює 1,4 ГГц. Добротність резонатора на резонансних частотах знаходиться в діапазоні 100–600 — це достатньо для визначення діелектричної проникності діелектричних зразків, які розміщені на плоскому дзеркалі. Діаметр діелектричних зразків досить малий та дорівнює 50 мм, а висота 5 мм. Результати комп'ютерного моделюван-ня добре узгоджуються з експериментальними. Різниця резонансної частоти та добротності між експериментальними та розрахунковими значеннями становить у середньому 100 МГц та 4 одиниці відповідно при вимірюванні зразків.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Downloads

Опубліковано

2021-11-17

Як цитувати

(1)
Breslavets, A. A.; Rong, L.; Gang, Z.; Voitovich, O. A.; Shubny, , O. I.; Glamazdin, V. V.; Natarov, M. P.; Rudnev, G. O.; Eremenko, Z. E.; Prokopenko, A. A. Hemispherical X Band Microwave Small Sized Open Resonator for Wide Range from 1 to 20 Permittivity Characterization of Solid-State Dielectrics. Fiz. Nizk. Temp. 2021, 48, 48-55.

Номер

Розділ

Статті