Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/1.5024545Ключові слова:
микроволновый поверхностный импеданс, сверхпроводящий халькогенид, тонкая пленка, микроволновый резонатор.Анотація
Дается обоснование предложенной версии о природе ранее обнаруженной особенности в температурной зависимости микроволновых потерь в полом резонаторе с тонкой сверхпроводящей пленкой халькогенида FeSe1–xTex, расположенной перпендикулярно магнитному полю резонатора. Эксперимент с пленкой при ее параллельной ориентации по отношению к полю показывает отсутствие особенности. Появление особенности в области Т ≤ Tc при параллельной ориентации пленки объясняется изменением ориентации и распределения поля в пленке при изменении температуры. Сравнение экспериментальных данных с результатами анализа теоретической модели, не учитывающей изменение поля в пленке, показывает, что модельное представление можно использовать при микроволновых импедансных исследованиях пленок с перпендику-лярной ориентацией в интервале температур от низких до ∼ 2Tc / 3. Получены также соотношения для эффективного поверхностного импеданса сверхпроводящих пленок в N-состоянии, которые необходимы при по-строении зависимости эффективного импеданса от температуры в интервале, включающем Tc.
Downloads
Опубліковано
2018-01-22
Як цитувати
(1)
А.А. Баранник, Н.Т. Черпак, Y. He, L. Sun, X. Zhang, М.В. Вовнюк, and Y. Wu, Микроволновый отклик полого резонатора с тонкой сверхпроводящей пленкой в зависимости от температуры и ориентации пленки, Low Temp. Phys. 44, (2018) [Fiz. Nizk. Temp. 44, 326-331, (2018)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.5024545.
Номер
Розділ
Статті
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.