Туннелирование через локализованные барьерные состояния в сверхпроводниковых гетероструктурах
DOI:
https://doi.org/10.1063/1.4951668%20Ключові слова:
электронное туннелирование, гетероструктуры сверхпроводник–допированный полупроводник–сверхпроводник, локализованные состояния, ферми-краевая сингулярность.Анотація
Созданы и экспериментально исследованы тонкопленочные гетероструктуры, состоящие из сверхпроводниковых обкладок (сплав молибдена с рением) и допированного вольфрамом наноразмерного слоя кремния. В интервале напряжений от –800 до 800 мВ и при температурах 4,2–8 К были измерены вольт-амперные характеристики таких переходов, на которых впервые наблюдались локальные максимумы то-ка на фоне скачкообразного увеличения его величины. Положения этих особенностей, симметричных относительно нуля напряжений, менялись от образца к образцу в пределах 40–300 мВ. С ростом температуры они размывались и полностью пропадали с исчезновением сверхпроводимости в электродах. Природу наблюдаемых сингулярностей мы связываем с особенностями электронного туннелирования через локализованные в полупроводниковом барьере примесные состояния. Использование сверхпроводящего электрода усиливает взаимодействие локализованного электрона с электронами проводимости благодаря корневой расходимости в плотности электронных состояний сверхпроводника.Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
Downloads
Опубліковано
2016-03-17
Як цитувати
(1)
Шатерник, В.; Шаповалов, А.; Суворов, А.; Скорик, Н.; Белоголовский, М. Туннелирование через локализованные барьерные состояния в сверхпроводниковых гетероструктурах. Fiz. Nizk. Temp. 2016, 42, 544-547.
Номер
Розділ
Статті