О возможности измерения энергетической щели сверхпроводников с помощью квантового интерференционного устройства
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/1.4915915%20Ключові слова:
двухсвязный сверхпроводник, прижимной точечный контакт, энергетическая щель сверхпроводника, импульс напряжения.Анотація
Экспериментально установлено влияние температуры на вид дискретных изменений тока в высокоиндуктивном (~10–6 Гн) двухсвязном сверхпроводнике (ДСП) с прижимным точечным контактом (ПТК)ниобий–ниобий. Измерена величина и длительность импульса напряжения на ДСП, возникающего в момент дискретного изменения его токового состояния. Величина импульса близка к значению энергетической щели сверхпроводника 2Δ/e, а его длительность (~10–6 с) соответствует минимально возможномувремени (~10–12 с) изменения состояния контакта при достижении тока распаривания через него. Результаты измерений обсуждаются на основе модельных представлений об особенностях квантовой интерференции токов в ДСП с ПТК в виде квантового интерферометра.
Downloads
Опубліковано
2015-01-22
Як цитувати
(1)
С.И. Бондаренко, В.П. Коверя, А.В. Кревсун, and Л.В. Гнездилова, О возможности измерения энергетической щели сверхпроводников с помощью квантового интерференционного устройства, Low Temp. Phys. 41, (2015) [Fiz. Nizk. Temp. 41, 235-243, (2015)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.4915915 .
Номер
Розділ
Надпровідність, зокрема високотемпературна
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
