Флуктуационная проводимость и критические токи в пленках Y-Ba-Cu-O

Анотація

Впервые проведен сравнительный анализ результатов, полученных при измерении флуктуационной проводимости (ФП) и плотности критического тока j_c(T) в пленках YBa₂Cu₃O_7-y, содержащих различное количество дефектов. Обнаружена взаимосвязь между величиной и температурной зависимостью ФП и величинами и температурными зависимостями критического тока и удельного сопротивления образцов. Из измерений ФП следует, что изменение этих зависимостей прямо связано с изменением числа дефектов, а следовательно, и центров пиннинга в исследуемых пленках. Показано, что в пленках, практически не содержащих дефекты, зависимость j_c(T) полностью следует модели, определяющей зависимость j_c(T) в ВТСП с малоугловыми границами раздела кристаллических блоков. С другой стороны, если в образце формируется специфическая структура дефектов, возникающая при определенных условиях в с-ориентированных эпитаксиальных ВТСП пленках, то наблюдается резкое возрастание величины j_c и наклона зависимостей j_c(T).