Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона
DOI:
https://doi.org/10.1063/1.1542480Ключові слова:
PACS: 61.46 w, 81.10.AjАнотація
С помощью электронографической методики впервые определена размерная зависимость среднеквадратичной амплитуды атомов < u 2 > 1/2 в свободных кластерах криптона. Средний размер кластеров N̅ сформированных в сверхзвуковых струях криптона, изменялся от 1×103 до 2×104 атомов/кластер. Установлено, что при уменьшении размера кластеров < u 2 > 1/2 увеличивается. Сопоставление наблюдавшейся зависимости с расчетной, учитывающей долевой вклад поверхностных атомов, показало, что для кластеров с N̅≥4×103 атомов/кластер увеличение < u 2 > 1/2 при уменьшении N̅ обусловлено только ростом относительного числа поверхностных атомов. Корреляция между расчетом и экспериментом исчезает, когда N̅≤4×103 атомов/ кластер. В этом случае экспериментальные значения заметно превышают расчетные, указывая тем самым на то, что в малых агрегациях помимо поверхности действуют также и другие факторы, способствующие росту < u 2 > 1/2.Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
Downloads
Опубліковано
2003-03-06
Як цитувати
(1)
Еременко, В.; Коваленко, С.; Солнышкин, Д. Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона. Fiz. Nizk. Temp. 2003, 29, 469-472.
Номер
Розділ
Короткі повідомлення