Рассеяние фононов структурными дефектами в твердом p-H2 и растворах p-H2 -o-D2
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/1.1382995Ключові слова:
PACS: 66.70. f, 67.80.Gb, 67.80.MgАнотація
Проведены исследования влияния стpуктуpных дефектов на теплопроводность в кpисталлах параводорода и растворах параводород-ортодейтерий. Дефекты в исследованных кpисталлах генерировались посредством термоудара. Температурные зависимости теплопроводности проанализированы в рамках релаксационной модели Каллауэя в дебаевском приближении для фононного спектра с учетом фонон-фононных процессов рассеяния, рэлеевского рассеяния на изотопических дефектах и стpуктуpных дефектах типа дислокаций и малоугловых границ. Обнаружена зависимость pезультата воздействия термоудара на образец от концентрации дейтерия. В чистом параводороде наблюдается увеличение плотности дислокаций, в растворах параводород-ортодейтерий - увеличение плотности малоугловых границ. Изменение плотности малоугловых границ в растворах после воздействия термоудара линейно зависит от концентрации o-D2.
Downloads
Опубліковано
2001-06-10
Як цитувати
(1)
О. А. Королюк, Б. Я. Городилов, А. И. Кривчиков, А. В. Раенко, and А. Ежовски, Рассеяние фононов структурными дефектами в твердом p-H2 и растворах p-H2 -o-D2, Low Temp. Phys. 27, (2001) [Fiz. Nizk. Temp. 27, 683-689, (2001)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.1382995.
Номер
Розділ
Фізичні властивості кpіокpисталів
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.