Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта

Автор(и)

  • С. В. Верховский
  • В. И. Окулов
  • К. А. Окулова
  • В. Я. Раевский

Ключові слова:

Опубліковано

1992-02-10

Як цитувати

(1)
С. В. Верховский, В. И. Окулов, К. А. Окулова, and В. Я. Раевский, Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта, Low Temp. Phys. 18, (1992) [Fiz. Nizk. Temp. 18, 164-167, (1992)].

Номер

Розділ

Статті

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають

1 2 > >>