Estimation of nano-roughness parameters of a solid substrate using surface electrons over a helium film
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/10.0044468Ключові слова:
superfluid helium film, surface electrons, thermally activated conductivityАнотація
Проаналізовано можливість дослідження якості поверхні діелектричної підкладки шляхом вимірювання рухливості поверхневих електронів над плівкою гелію за умов зміни її товщини. Описано пристрій для вимірювання товщини плівки, що містить витиснювач з електромагнітним приводом. Система відвісу пристрою забезпечує в середньому однорідну товщину плівки. Використання цього пристрою разом із вимірюваннями рухливості дає змогу оцінити ефективний масштаб шорсткості поверхні.
Посилання
M. W. Cole and M. H. Cohen, Phys. Rev. Lett. 23, 1238 (1969). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.23.1238
V. B. Shikin, Zh. Eksp. Teor. Fiz. 58, 1748 (1970).
Y. Monarkha and K. Kono, Two-Dimensional Coulomb Liquids and Solids (Berlin, Springer-Verlag, 2003).
P. M. Platzman and M. I. Dykman, Science 284, 1967 (1999). https://doi.org/10.1126/science.284.5422.1967
S. A. Lyon, Phys. Rev. A 74, 052338 (2006). https://doi.org/10.1103/PhysRevA.74.052338
V. A. Nikolaenko and S. S. Sokolov, J. Opt. Photon. Res. 2, 11 (2025). https://doi.org/10.47852/bonviewJOPR42023430
N. Kumar, S. Mignuzzi, W. Su, and D. Roy, Europ. Phys. J. Tech. Instrum. 2, 1 (2015).https://doi.org/10.1140/epjti/s40485-015-0019-5
F. F. Mende, Yu. Z. Kovdrya, and V. A. Nikolaenko, Sov. J. Low Temp. Phys. 11, 355 (1985) [Fiz. Nizk. Temp. 11, 646 (1985)]. https://doi.org/10.1063/10.0031312
Two-Dimensional Electron Systems in Helium and Other Substrates, edited by E. Andrei Dordrecht (Kluwer, 1997).
D. Coimbra, S. S. Sokolov, J. P. Rino, and N. Studart, J. Low Temp. Phys. 126, 505 (2002). https://doi.org/10.1023/A:1013750714268
X. L. Hu, Y. Carmi, and A. J. Dahm, J. Low Temp. Phys. 89, 625 (1992). https://doi.org/10.1007/BF00694102
P. M. Platzman, Surf. Sci. 170, 55 (1986). https://doi.org/10.1016/0039-6028(86)90938-6
W. T. Sommer and D. J. Tanner, Phys. Rev. Lett. 27, 1346 (1971). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.27.1345
Ya. Yu. Bezsmolnyy, V. A. Nikolaenko and S. S. Sokolov, J. Phys. Sci. Appl. 6, 37 (2016).https://doi.org/10.17265/2159-5348/2016.05.007
V. B. Shikin and Yu. P. Monarkha, Sov. J. Low Temp. Phys. 1, 459 (1975) [Fiz. Nizk. Temp. 1, 957 (1975)]. https://doi.org/10.1063/10.0029156
S. S. Sokolov and N. Studart, Phys. Rev. B 67, 132510 (2003). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.67.132510
