X-ray spectromicroscopy of single NiO antiferromagnetic nanoparticles

Автор(и)

  • A. I. Figueroa Departament de Física de la Matèria Condensada, Universitat de Barcelona, Barcelona 08028, Spain
  • C. Moya Departament de Física de la Matèria Condensada, Universitat de Barcelona, Barcelona 08028, Spain
  • M. X. Aribó Departament de Física de la Matèria Condensada, Universitat de Barcelona, Barcelona 08028, Spain
  • J. Ara Departament de Física de la Matèria Condensada, Universitat de Barcelona, Barcelona 08028, Spain
  • M. García del Muro Departament de Física de la Matèria Condensada, Universitat de Barcelona, Barcelona 08028, Spain
  • A. Kleibert Swiss Light Source, Paul Scherrer Institut, Villigen PSI 5232, Switzerland
  • S. Valencia Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie, Berlin D-12489, Germany
  • A. Labarta Departament de Física de la Matèria Condensada, Universitat de Barcelona, Barcelona 08028, Spain
  • X. Batlle Departament de Física de la Matèria Condensada, Universitat de Barcelona, Barcelona 08028, Spain
  • A. Fraile Rodríguez Departament de Física de la Matèria Condensada, Universitat de Barcelona, Barcelona 08028, Spain

Ключові слова:

X-ray absorption spectroscopy, X-ray photoemission electron microscopy, antiferromagnetic nanoparticles, single-particle characterization, NiО

Анотація

Хімічні та магнітні властивості наночастинок (НЧ) NiO дослiджено з одночастинковою чутливістю за допомогою синхротронної поляризаційно-залежної рентгенівської абсорбційної спектроскопії з використанням фотоемісійної електронної мікроскопії навколо країв Ni L3,2. Три зразки НЧ у діапазоні розмірів 40–120 нм було синтезовано шляхом термічного розкладу та подальшого вiдпалу. Аналіз локальних рентгенівських спектрів поглинання десятків окремих НЧ вказує на сильну залежність їхнього стану окиснення Ni від протоколу вiдпалу кожного зразка. Додаткові зображення та спектри кількох окремих НЧ, що отримано за допомогою електронної мікроскопії, а також інші стандартні макроскопічні дані дуже добре узгоджуються з цими експериментальними результатами, це свiдчить про актуальність поєднання стандартних і вдосконалених одночастинкових досліджень для глибшого розуміння та контролю електронних і магніт них явищ на нанорівні.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Downloads

Опубліковано

2024-08-20

Як цитувати

(1)
Figueroa, A. I. .; Moya, C. .; Aribó, M. X. .; Ara, J. .; García del Muro, M. .; Kleibert, A. .; Valencia, S. .; Labarta, A. .; Batlle, X. .; Fraile Rodríguez, A. . X-Ray Spectromicroscopy of Single NiO Antiferromagnetic Nanoparticles. Fiz. Nizk. Temp. 2024, 50, 948–957.

Номер

Розділ

Статті