Escape rate in ac SQUID on Josephson junction based on single- and multi-band superconductors in thermal activation regime

Анотація

Частота розпадів (переходів з надпровідного S-стану в нестабільний резистивний R-стан) у НКВІД змінного струму з джозефсонівським переходом на основі одно- та багатозонних надпровідників досліджується з урахуванням ефектів фрустрації в багатозонному надпровідному стані. Використовуючи підхід ефективного критичного струму, показано, що швидкість виходу в режимі термічної активації може проявляти якісні особливості, спричинені ефектами фрустрації у дво- та тризонних надпровідниках.