Frustration effect on escape rate in Josephson junctions between single-band and three-band superconductors in the macroscopic quantum tunneling regime

Анотація

Досліджено частоту переходів S → R (з надпровідного S-стану в резистивний R-стан) у джозефсонівському контакті, який утворений s-хвильовими однозонними (SB) та трьохзонними(ThB) надпровідниками (переходи SB/ThB) у режимі макроскопічного квантового тунелювання. Використано наближення ефективного критичного струму в SB/ThB контактах. Показано, що частота переходів має особливість у разі фрустраційних ефектів у ThB надпровідниках. Включення режимів Леггетта у ThB надпровідниках призводить до збільшення частоти переходів у трьох канальних джозефсонівських контактах в порівнянні з одноканальними.