Соизмеримые вихревые решетки в тонких пленках V и сверхпроводящих сверхрешетках V/Si

Статьи, посвященные столетию со дня рождения Л. В. Шубникова

Автор(и)

  • Н. Я. Фогель Department of Physics, Solid State Institute, Technion, Haifa 32100, Israel
  • Е. И. Бухштаб Department of Physics, Solid State Institute, Technion, Haifa 32100, Israel
  • В. Г. Черкасова Физико-технический институт низких температур им. Б. И. Веркина НАН Украины, пр. Ленина, 47, г. Харьков, 61103, Украина
  • О. И. Юзефович Физико-технический институт низких температур им. Б. И. Веркина НАН Украины, пр. Ленина, 47, г. Харьков, 61103, Украина
  • М. Ю. Михайлов Физико-технический институт низких температур им. Б. И. Веркина НАН Украины, пр. Ленина, 47, г. Харьков, 61103, Украина
  • А. Н. Стеценко Харьковский государственный политехнический университет, ул. Фрунзе, 21, г. Харьков, 61002, Украина

Ключові слова:

PACS: 74.60.Ec, 74.60.Ge, 74.76.- w, 74.80.Dm

Анотація

Исследованы особенности шубниковской фазы в тонких пленках сверхпроводников II рода в случае, когда магнитное поле параллельно поверхности пленки. Измерения немонотонных зависимостей критического тока Ic от магнитного поля H|| позволяют выявить соизмеримые вихревые решетки с разным количеством вихревых цепочек в пленке. Установлено, что на однородных пленках наблюдение эффекта соизмеримости параметра вихревой решетки с толщиной пленки возможно только при идеальном состоянии границ пленки, допускающем образование бесконечной решетки вихрей и их изображений. Нарушение гладкости и плоскопараллельности двух поверхностей пленки приводит к исчезновению осцилляций Ic и резкому уменьшению критического тока. На пленках впервые обнаружен lock-in переход, обусловленный влиянием поверхностного барьера. Установлено, что в тонкопленочных слоистых образцах одновременно проявляется эффект соизмеримости параметра вихревой решетки с периодом сверхструктуры и с полной толщиной образца. Рассмотрена фазовая диаграмма Н-Т однородной пленки в параллельном магнитном поле.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Опубліковано

2001-10-10

Як цитувати

(1)
Фогель, Н. Я.; Бухштаб, Е. И.; Черкасова, В. Г.; Юзефович, О. И.; Михайлов, М. Ю.; Стеценко, А. Н. Соизмеримые вихревые решетки в тонких пленках V и сверхпроводящих сверхрешетках V/Si: Статьи, посвященные столетию со дня рождения Л. В. Шубникова. Fiz. Nizk. Temp. 2001, 27, 1019-1029.

Номер

Розділ

Статті

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають

<< < 1 2 3 4 > >>