Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности

Автор(и)

  • В. Г. Прохоров Институт металлофизики НАН Украины, Украина, 252142, г. Киев,

DOI:

https://doi.org/10.1063/1.593610

Ключові слова:

Анотація

Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa2Cu3O7-x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Downloads

Опубліковано

1998-06-10

Як цитувати

(1)
Прохоров, В. Г. Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности. Fiz. Nizk. Temp. 1998, 24, 544-548.

Номер

Том 24 № 6 (1998)

Розділ

Надпровідність, зокрема високотемпературна

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають

1 2 > >>