Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов

Автор(и)

  • С. П. ЧЕНАКИН
  • В. Т. ЧЕРЕПИН
  • Б. Г. НИКИТИН
  • Г. А. КЛИМЕНКО
  • Ф. Г. РЮДЕНАУЭР
  • В. ШТАЙГЕР

Ключові слова:

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Downloads

Опубліковано

1989-09-10

Як цитувати

(1)
ЧЕНАКИН, С. П.; ЧЕРЕПИН, В. Т.; НИКИТИН, Б. Г.; КЛИМЕНКО, Г. А.; РЮДЕНАУЭР, Ф. Г.; ШТАЙГЕР, В. Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов. Fiz. Nizk. Temp. 1989, 15, 920-925.

Номер

Том 15 № 9 (1989)

Розділ

Статті

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають