Ефимов, В. Б., & Межов-Деглин, Л. П. (1982). Захват зарядов дефектами, возникающими при охлаждении кристаллов He⁴ ниже Т_пл/2. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 8(5), 466–476. вилучено із https://fnt.ilt.kharkov.ua/index.php/fnt/article/view/f08-0466r