Федотов, Ю. В.; Рябченко, С. М.; Шахов, А. П. Критические токи в тонких YBa ₂ Cu ₃ O _7-x ВТСП пленках, облученных электронами C энеpгией 4 Мэ. Fiz. Nizk. Temp. 2000, 26, 638-642.