С. В. Верховский, В. И. Окулов, К. А. Окулова, and В. Я. Раевский, Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта, Low Temp. Phys. 18, (1992) [Fiz. Nizk. Temp. 18, 164-167, (1992)].