Межов-Деглин, Л.; Мухин, С. Осцилляции перегибов на дислокационных линиях в кристаллах и низкотемпературные транспортные аномалии как "паспорт" свежевведенных дефектов: Теория электронных свойств. Fiz. Nizk. Temp. 2011, 37, 1011-1018.