Л.П. Межов-Деглин and С.И. Мухин, Осцилляции перегибов на дислокационных линиях в кристаллах и низкотемпературные транспортные аномалии как "паспорт" свежевведенных дефектов: Теория электронных свойств, Low Temp. Phys. 37, (2011) [Fiz. Nizk. Temp. 37, 1011-1018, (2011)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.3670021.