(1)
И. М. Дмитренко, П. А. Гриб, А. Г. Сиваков, О. Г. Турутанов, and А. П. Журавель, Исследование пространственного распределения критических токов в пленках ВТСП методом лазерной сканирующей микроскопии, Low Temp. Phys. 19, (1993) [Fiz. Nizk. Temp. 19, 369-374, (1993)].