(1)
Мошенский, А.; Фогель, Н.; Сидоренко, А.; Глухов, А.; Дмитренко, И.; Тищенко, Л.; Фогель, Я. Критические токи тонких пленок и их связь с неоднородностями параметров сверхпроводников. Fiz. Nizk. Temp. 1976, 2, 686-695.