[1]
Ефимов, В.Б. і Межов-Деглин, Л.П. 1982. Захват зарядов дефектами, возникающими при охлаждении кристаллов He4 ниже Тпл/2. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР. 8, 5 (Трав 1982), 466–476.