Veremeichyk, T.V. , Makarenko, O.V. , Shevchenko, V.B. , Ivanchuk, S.Y. і Rybalochka, A.V. 2024. Investigation of multilayer samples of porous silicon with periodic structure by spectroscopic ellipsometry . ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР. 51, 2 (Груд 2024), 261–266.