Верховский, С. В., Окулов, В. И., Окулова, К. А., & Раевский, В. Я. (1992). Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 18(2), 164–167. вилучено із http://fnt.ilt.kharkov.ua/index.php/fnt/article/view/f18-0164r