ЧЕНАКИН, С. П., ЧЕРЕПИН, В. Т., НИКИТИН, Б. Г., КЛИМЕНКО, Г. А., РЮДЕНАУЭР, Ф. Г., & ШТАЙГЕР, В. (1989). Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 15(9), 920–925. вилучено із http://fnt.ilt.kharkov.ua/index.php/fnt/article/view/f15-0920r