[1]
Межов-Деглин, Л. і Мухин, С. 2011. Осцилляции перегибов на дислокационных линиях в кристаллах и низкотемпературные транспортные аномалии как "паспорт" свежевведенных дефектов: Теория электронных свойств. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР. 37, 9-10 (Сер 2011), 1011–1018. DOI:https://doi.org/10.1063/1.3670021.