ЧЕНАКИН, С.П., ЧЕРЕПИН, В.Т., НИКИТИН, Б.Г., КЛИМЕНКО, Г.А., РЮДЕНАУЭР, Ф.Г. і ШТАЙГЕР, В. 1989. Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов. ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР. 15, 9 (Вер 1989), 920–925.