Low Temperature Physics: 29, 650 (2003); https://doi.org/10.1063/1.1596793 (2 pages)
Физика Низких Температур: Том 29, Выпуск 8 (Август 2003), c. 868-870    ( к оглавлению , назад )

Электропроводность сверхпроводящих микроконтактов, содержащих магнитные примеси

С.И. Белобородько

Физико-технический институт низких температур им. Б.И.Веркина НАН Украины пр. Ленина, 47, г. Харьков, 61103, Украина
E-mail: biloborodko@ilt.kharkov.ua

Статья поступила в редакцию 26 марта 2003 г.

Анотация

Исследована нелинейная электропроводность контактов сверхпроводник-сужение-нормальный металл, содержащих магнитные примеси. Проанализировано влияние прозрачности потенциального барьера, который возникает на границе контактирующих металлов, на зависимость проводимости и величину избыточного тока. Показано, что в случае малой прозрачности дифференциальная проводимость такого контакта пропорциональна плотности электронных состояний.

PACS:
74.50.+r - Tunneling phenomena; point contacts, weak links, Josephson effects (for SQUIDs, see 85.25.Dq; for Josephson devices, see 85.25.Cp; for Josephson junction arrays, see 74.81.Fa)